继电保护测试仪开入量原理简析与接线方法
发布时间:2020-07-15 17:17:17
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进行继电保护装置测试时,继电保护测试仪的开入量与保护装置动作与否、动作时间等息息相关。
现场试验经常会出现继电保护跳了,但继保测试仪未收到动作接点,检查开入接线、保护动作均良好,单独短接开入量进行测试时也显示正常。
针对此类问题,我们可以从开入量的原理入手进行分析。
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△ 图1 开入量端子原理图
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△ 图2 无电位接点 △ 图3 带电位接点
图1以开入A举例说明,其他路开入量与开入A原理相同,并共用电源和COM端。 设图中电压源电压为
U1,图1中O1为光耦,光耦负边通至测试装置主板,当光耦由通变断或由断变通,即光耦的通断状态有变化时,测试仪会记录光耦状态变化瞬间的时刻。
此电路的工作原理: O1最小导通电流为Imin,最大工作电流为Imax,回路电流为I,当I≥Imin,时,O1导通,IImax时,电路烧坏。
下面我们以不带电位接点(图 2)和带电位接点(图3)两种情况进行说明。
直接从保护装置跳闸端子接线,未引入直流电源回路。 试验时可能会出现两种接法:
1、取1、2两点接入测试装置的开入量COM、A,由于无电位,两点接线可以任意交换。 此时,若开关为分,电路开路, I=0,光耦不通。
当保护装置给出跳闸信号时,图中开关会由分到合,此时 ,(U1、R1、R2的值固定)光耦导通,测试装置记录动作。 此种接法进行测试时通常不会出现异常。
2、当从1、3两点接入时,回路中多串入一个电阻R,此时 ,电流I的大小取决于R,R越大,I越小,当R足够大导致I
2、COM接点1,A接点3,此种情况开关未闭合时电流 ,光耦不通。 当保护跳闸,开关闭合时,开关两端电压为 0V,此时电流
,光耦还是不通,测试装置无法记录动作,因此此种接法错误。
3、COM接点2,A接点3,此种情况开关未闭合时,电流
,若R较小,能使I≥Imin,则光耦导通,当保护跳闸,开关闭合时,电阻R上的电压UR=U2,电流 ,光耦不通。
这样光耦由通变为不通,状态有变化,测试装置能正常记录动作时间。 若 R较大,使得开关未闭合时电流
,光耦不通,此种情况无论开关是否闭合,光耦均不通,测试装置无法正常记录保护动作。 因此此种接法和不带电位的第二种接法一样,能否正常测试均取决于
R的大小,一般不建议采用。
除此之外,还有其他接线方法以及纯电位高低的测试,其原理和以上列举的基本类同,不再赘述。
综上所述,现场试验时,无论是不带电位接点还是带电位接点,接线尽量采用两种情况下列举的第一种接线方式,通常不会出现异常。
无法正常记录时,可以甩开保护接线,在测试装置运行时用短接线直接对 A和COM短接,若测试装置能正常记录动作,则可以排除继保测试仪的故障。
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