局部放电试验中的干扰类型和方式

　　干扰会降低局部放电测试的检测灵敏度，应将干扰电平抑制到最低水平。干扰的种类通常包括：电源干扰、接地系统干扰、电磁辐射干扰、测试设备各部件的放电干扰、各种接触干扰。这些干扰及其对测试回路的访问。

　　一、电源干扰。探测器和测试变压器使用的电源连接到低压配电网，配电网中的各种高频信号会直接造成干扰。因此，通常采用屏蔽电源隔离变压器和低通滤波器进行抑制，效果非常好。

　　二、接地干扰。测试电路接地不当。例如，在有两个或多个地的接地网系统中，各种高频信号会通过接地线耦合到测试电路中，造成干扰。这种干扰通常与测试电压水平无关。测试电路使用单点接地来减少这种干扰。

　　三、电磁辐射干扰。在高压带电设备或高压输电线路附近，无线电发射机和除测试电路之外的其他高频信号如晶闸管和电刷以电磁感应或电磁辐射的形式耦合到杂散或杂散电感上。测试电路，其波形往往难以与样品的内部放电区分开来，对现场测量影响很大。它的特点是与测试电压无关。消除这种干扰的基本对策是将样品放置在良好屏蔽的实验室中。使用平衡法、对称法和模拟天线法的测试回路也可以抑制辐射干扰。

　　四、暂停的潜在放电干扰。由靠近测试电路的未接地金属产生的感应浮动电位放电也是一种常见的干扰类型。它的特点是测试电压升高，但其波形一般更容易识别。消除的对策一是远离，二是接地。

　　五、电晕放电和每个接头处的接触放电干扰。电晕放电发生在高电位的试验电路的导电部分，如试件法兰、金属帽、试验变压器、耦合电容端部、高压端部等。带领。由于各连接处接触不良，测试电路中也可能出现接触放电干扰。这两种干扰的特性随着测试电压的增加而增加。消除此类干扰的方法是在高压端采用防晕环措施（如防晕环），高压引线采用不导晕的导电管，接头之间接触良好。

　　六、测试变压器和耦合电容的内部放电干扰。这种放电很容易与样品的内部放电相混淆。因此，所用试验变压器和耦合电容的局部放电水平应控制在一定的允许量以下。

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