兆欧、DAR 和 PI 测试中涉及的电流

　　兆欧、DAR 和 PI 测试中涉及的电流

　　1、I C – 电容性：电容性浪涌电流通过充电将电机中的电势提高到测试电压。该电流迅速下降并在达到测试电压后的几秒钟内达到零。对于具有高电容的大型电机，浪涌电流很高。总泄漏电流故障限值必须设置得足够高，以避免在测试的初始阶段触发限值。

　　2、I A – 吸收：吸收电流使绝缘极化。在随机绕线电机中，该电流也会在 30 秒到 1 分钟内变为零或非常接近零。由于匝间使用了绝缘层，绕线电机需要更长的时间。吸收电流随时间的变化用于计算绝缘电阻测试中的PI 和 DAR比率。

　　3、I G – 电导：电导电流通过大部分绝缘体在铜导体和地之间流动。如果电机是新的或未损坏的，该电流通常为零。随着电机绝缘老化和破裂或损坏，电导电流可能会根据所施加的测试电压流动。电导电流趋于随着电压的增加而加速。该电流有时被称为漏电流或作为漏电流的一部分。

　　4、I L – 表面漏电流：根据 IEEE 43，表面漏电流是在绕组表面的污垢中流向接地的电流。在其他标准中称为表面传导电流。较脏的电机具有较高的漏电流和较低的兆欧结果。在末端绕组上带有应力控制涂层的电机上，表面漏电流可能会增加。使用随机绕线电机 1 分钟或使用模绕电机 5-10 分钟后，表面泄漏电流通常是唯一剩余的电流，除非绝缘薄弱或损坏。

　　5、I T – Total：总电流是 4 个电流的总和。电机和绝缘测试仪测量总电流。总电流等于或非常接近绝缘电阻测试结束时的表面漏电流。这使操作员可以很好地衡量电机的脏污程度。它还提醒操作员注意从绕组到接地可能发生的灾难性连接。